中船重工725研究所厦门材料研究院凭借先进的检测设备和专业的测试工程师团队，为广大厂商，贸易商提供透射电镜双喷电解离子减薄形貌观察、微区成分分析测试服务。。

仪器参数： 

超高分辨极靴 (UHR) 

点分辨率：0.19nm；线分辨率：0.14nm 

STEM (HAADF)分辨率：0.20nm 

最小束斑：0.2nm 

样品杆最大倾斜角 (X、Y):  ±25° 

Oxford能谱仪 (EDS)　　　　

能量分辨率：~130eV (MnK线)

元素范围：⁵B ~ ⁹²U 

设备功能： 

主要用于无机材料微观结构与组成的分析和研究，仪器的功能包括： 

电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射 

成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像 (HREM)、扫描透射像 (明场像、环状暗场像) 

微区成分：EDS能谱的点、线和面分析，原位表征：温场下的结构演变 (加热样品杆附件：室温~1000°C) 

应用范围 

材料范围：除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；不适用于有机和生物材料 表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成 结构相变原位研究。

如需透射电镜双喷电解离子减薄形貌观察、微区成分分析测试服务，欢迎联系我测试中心的工程师，电话：13559224294 Email:xm725lab@163.com.